信息发布 
2008年9月30日

    在受欧盟指令RoHS（有毒物质限制）和WEEE（废弃电子电器设备）管制的有毒重金属的筛选方面，X射线荧光（XRF）光谱法已成为最佳的技术手段。 

    ASTM于2008年9月26日发布了一个采用XRF法对均匀聚合物中有毒重金属元素进行例行分析的新的国际标准（ASTM F2627－08）（www.astm.org）。帕纳科为此新国际工业标准的研发做出了贡献，并引以自豪。据此标准，一旦拥有了适合RoHS/WEEE分析用的能量色散X射线（EDXRF）光谱仪，比如帕纳科的MiniPal 4 RoHS WEEE专用光谱仪，就可以对RoHS 元素进行直接而可靠的分析。 

    所有出口到欧盟的产品必须满足RoHS/WEEE指令和REACH条例（化学物质注册、评价、授权和限制）的要求。尽管保证产品和元件符合要求的责任方为生产者和销售者，但帕纳科公司愿与您站在一起，我们全球范围的代表所组成的团队随时为您在当地提供元素分析解决方案和质量控制成本管理等方面的帮助和咨询。 

    为帮助向欧盟出口产品的客户满足越来越复杂的环境管制条例，帕纳科公司除了为您提供专用的设备和组合校准样品之外，还将向您奉献集60年X射线分析而成的先进经验和方法。如果您想要获取成熟的RoHS/WEEE元素分析解决方案、RoHS系列校准标样、以及大量的技术秘诀，请与当地的帕纳科代表联系